DAAD Nairobi zu Besuch am NM-AIST in Arusha/Tansania
Das Nelson Mandela African Institution for Science and Technology (NM-AIST) in Arusha (Tansania) ist mit dem Studiengang MSC Embedded and Mobile Systems Kernstück des seit 2017 aufgebauten Centre of Excellence for ICT in East Africa (CENIT@EA), das mit Mitteln des BMZ im Auftrag der Ostafrikanischen Gemeinschaft von GIZ, DAAD und IUCEA implementiert wird. Seit 2022 ist das NM-AIST auch Partner im In-Counry/In-Region Stipendienprogramm des DAAD. Den Studiengang zeichnen Praxisnähe und Arbeitsmarktorientierung aus. Die Masterstudierenden leisten im Rahmen ihres Studiums ein rund sechsmonatiges Praktikum in einem Unternehmen oder einer Organisation in der Ostafrikanischen Gemeinschaft ab.
Umgesetzt wird die akademische Komponente des dSkills@EA-Projekts (Hochschulzentrum und Masterstudiengang), für die der DAAD verantwortlich zeichnet, von einem akademischen Konsortium aus deutschen und ostafrikanischen Hochschulen unter Leitung der Universität Oldenburg (ZE). Bewährte Partner der Hochschulkooperation sind auf ostafrikanischer Seite die University of Dar Es Salaam und die University of Technology and Arts Byumba; neu hinzugekommen in der aktuellen Projektphase sind die Moi University und die Kabale University. Derzeit finden Gespräche mit der University of Burundi und der Juba University statt, um die Kooperation weiter auszubauen.
In der aktuellen Projektphase (7/2021 – 12/2023) sollen Hochschulzentrum und Studiengang weiterentwickelt und verstetigt werden. Seit Akkreditierung 2019 haben vier Jahrgänge das Studium mit finanzieller Förderung (Stipendium aus Projektmitteln) aufgenommen und teilweise abgeschlossen.
NM-AIST bereitete der Direktorin des DAAD Regionalbüros Nairobi, Beate Schindler-Kovats, einen herzlichen Empfang und hatte den Besuch gut vorbereitet und organisiert. Auf der Agenda standen der Austausch mit den Projektpartnern, eine Informationsveranstaltung für die Studierenden und ein Round-table Gespräch mit den Dekanen und Direktoren der Abteilungen.
